椭偏仪

布鲁斯特角显微镜

这种显微镜技术可以直接观察透明电介质基底上的超薄有机薄膜。它是基于这样的原理，当p偏振入射光在布鲁斯特角下时，从清洁表面不会发生反射。 Brewster角设置的“黑色背景”允许使用具有最大强度的探测器（CCD相机）。具有不同折射率的非常薄的有机层（例如典型为2nm的单层）将引起反射。通常，产生的反射仅为入射强度的百万分之一。 反射光可用于形成层的横向形态的高对比度图像，在生命科学和材料研究中有应用。