可用于 300mm晶片圆测量和分析的高端自动化纳米测量工具
专为大样品晶圆检测而建
NX20 300 mm进行了全新设计,可达到大样品的高精度测量。整个300mm晶圆区域可进行低噪声原子力显微镜测量分析。这开启了一个全新的自动化测量范围,让工程师可以更快捷、更简便、更精准地开展工作。
Park NX20 300mm是业界创新型大样品原子力显微镜,支持300mm×300mm全程机动化。新升级的Park NX20系统专为失效分析和质量控制实验室设计,可有效地检测整个300mm晶圆,且无需任何繁琐的样品位移。尽管扩大了支持300mm样品的机动XY工作台,但Park的创新性振动隔离技术仍然能够将系统噪声保持在低于0.5 (Å) RMS,通常是0.3 Å RMS的水平。 经检验的原子力显微镜性能和单击-原子力显微镜自动化取消了样本调整的需求,并使Park NX20的扫描过程尽可能高效和便于使用。通过我们的“批处理模式(Program Mode)”界面,用户可以在整个300mmx300mm区域轻松实现可靠与可重复的顺序多站点测量。NX20 300 mm从而成为需要扫描大样品的FA、QA和QC工程师的理想选择。
NX20 300 mm进行了全新设计,可达到大样品的高精度测量。整个300mm晶圆区域可进行低噪声原子力显微镜测量分析。这开启了一个全新的自动化测量范围,让工程师可以更快捷、更简便、更精准地开展工作。
因其便捷的易用性和自动化以及不受影响的精度,NX20已是FA、QA和QC工程师的理想选择。凭借其支持300mm电动XY轴工作台的扩大平台,NX20 300mm更上一层楼,允许用户轻松地以较高的精度检测更大的样品。
Park NX20配备了我们的SmartScan操作系统,是市场上易使用的原子力显微镜。通过直观且强大的界面,即便是未经培训的用户无需协助也可快速扫描大样品。这使高级工程师能够集中精力解决更大的问题和开发更好的解决方案。
NX20 300mm为众多应用提供自动格式的原子力显微镜测量,为纳米级的样品提供精准测量和分析。具有粗糙度、高度和深度测量,缺陷检查,电气和磁故障分析,热性能表征和纳米力学性能成像等能力,该原子力显微镜是检测大样品的FA、QA和QC工程师执行各种任务的理想选择。
Park NX20产生您可以信赖、复制并以高纳米分辨率发布数据。它配备了领域内有效的低噪声Z探测器,在大带宽下的噪声仅为0.02纳米。这确保了高精准的样品形貌测量,没有边缘过冲现象。这是Park NX20为您节省时间并提供更优数据的众多优点之一。
Park NX20经过倾心打造,旨在满足大样品的各种计量和分析应用需求。它以其全面的模式范围脱颖而出,为各个领域的研究人员提供了广泛的工具包。从标准成像到电化学分析,该仪器无缝支持多种原子力显微镜模式,展示了其对各种应用的适应性。借助Park NX20,研究人员可以自信地探索和深入研究科学问题,从而受益于这种多功能且可靠的工具,提升其工作的精准性和效率。
Park NX20允许用户轻松地根据研究环境进行设置,提供多样化的选项和配件,使其能够无缝地适应这些环境:优化热性和化学性能选项等。